VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut

VDE Prüf- und
Zertifizierungsinstitut
VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut GmbH • Merianstraße 28 • 63069 Offenbach
Microchip Technology Inc.
2355 West Chandler Blvd.
Mr Douglas Anderson
CHANDLER AZ 85224-6199
USA
Offenbach, 2014-11-17
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Ansprechpartner
Douglas Anderson
2013-10-24
5009193-4970-0002/190578
AS6/swa
Herr Schwab
Tel
(069) 83 06-607
Fax
(069) 83 06-606
ralf.schwab@vde.com
PRÜFBERICHT
zur Information des Auftraggebers
Test Report for the Information of the applicant
Produkt / Product:
Mikro-Controller Selbstdiagnose Bibliothek
Für Typenfamilie / for type-family: PIC 24 / dsPIC 30 / dsPIC 33
Software Klasse / software class : R1 / B
Sehr geehrte Damen und Herren,
dieser Prüfbericht enthält das Ergebnis einer einmaligen Untersuchung an dem zur Prüfung
vorgelegten Erzeugnis. Ein Muster dieses Erzeugnisses wurde geprüft, um die Übereinstimmung mit
den nachfolgend aufgeführten Normen bzw. Abschnitten von Normen festzustellen.
Die Prüfung wurde durchgeführt vom 2018-04-14 bis 2014-08-26.
This test report contains the result of a singular investigation carried out on the product submitted. A
sample of this product was tested to found the accordance with the thereafter listed standards or
clauses of standards resp. The testing was carried out from 2018-04-14 to 2014-08-26.
Der Prüfbericht berechtigt Sie nicht zur Benutzung eines Zertifizierungszeichens des VDE und
berücksichtigt ausschließlich die Anforderungen der unten genannten Regelwerke.
The test report does not entitle for the use of a VDE Certification Mark and considers solely the
requirements of the specifications mentioned below.
EIN UNTERNEHMEN DES
Q VERBAND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMATIONSTECHNIK e.V.
Geschäftsführer
Dipl.-Ing. Michael Jungnitsch (Vors.)
Dipl.-Ing./Dipl.-Kfm. Wilfried Jäger
EUR-/Dipl.-Ing. Wolfgang Niedziella
Merianstrasse 28
63069 Offenbach
E-mail: vde-institut@vde.com
http://www.vde.com
Gerichtsstand:
Frankfurt am Main
HRB 43618
USt.-IdNr.: DE261922990
Steuer-Nr.: 04425092566
Tel.: +49 (0) 69 83 06-0
Fax: +49 (0) 69 83 06-555
Bankkonto
Commerzbank AG
BLZ 500 800 00
Kto.Nr.: 198 027 000
S.W.I.F.T.-Code:
DRES DE FF XXX
IBAN
DE 91500800000198027000
.../2
Benannte Stelle nach dem Produktsicherheitsgesetz (ProdSG)
und der EMV-Richtlinie 2004/108/EG. Akkreditiert nach
DIN EN ISO/IEC 17021, 17025 und DIN EN 45011.
Anerkannte Prüf- und Zertifizierungsstelle für internationale
(IECEE und IECQ) und europäische Zertifizierungssysteme
(CCA, HAR, ENEC).
A
Seite 2 - 17.11.2014
Unser Zeichen:
5009193-4970-0002/190578
AS6/swa
Wenn gegenüber Dritten auf diesen Prüfbericht Bezug genommen wird, muss dieser Prüfbericht in
voller Länge an gleicher Stelle verfügbar gemacht werden.
Whenever reference is made to this test report towards third party, this test report shall be made
available on the very spot in full length.
•
1
Beschreibung
Description
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•
2
Standards
3
Hersteller
Manufacturer
4
Identifikation
Identification
5
Maßnahmen zur
Fehlerbeherrschung
Measures to control
faults/errors
Software Selbstdiagnose-Bibliothek für die PIC24/dsPIC30/dsPIC33
Mikro-kontroller-Familie.
SW selftest library for PIC24/dsPIC30/dsPIC33 microcontroller
family.
IEC 60335-1(ed.5);am1
Anhang R Table R1 & R3 (soweit anwendbar)
Annex R Table R1 & clause R3 (as far as applicable)
IEC 60730-1(ed.5)
Anhang H Tabelle 1 & H11.12.3 (soweit anwendbar)
Annex H table 1 & H11.12.3 (as far as applicable)
Microchip Technology Inc. / 2355 West Chandler Blvd. / Chandler AZ
85224-6199
•
Version 2.4
•
•
•
•
•
Measure (English only)
Register test (read/write compare)
RAM test (March C- / March C)
RAM test (March B)
Clock test (2 clocks – comparison)
ROM Checksum test (16Bit CRC)
Reference
H 2.16.6
H 2.19.6
H 2.19.6
H 2.18.10.1
H 2.19.3.1
Note: The register tests, March C-/C, March B tests can be
used either destructive or non-destructive, so they may be
used during runtime.
EIN UNTERNEHMEN DES
Q VERBAND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMATIONSTECHNIK e.V.
Geschäftsführer
Dipl.-Ing. Michael Jungnitsch (Vors.)
Dipl.-Ing./Dipl.-Kfm. Wilfried Jäger
EUR-/Dipl.-Ing. Wolfgang Niedziella
Merianstrasse 28
63069 Offenbach
E-mail: vde-institut@vde.com
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Gerichtsstand:
Frankfurt am Main
HRB 43618
USt.-IdNr.: DE261922990
Steuer-Nr.: 04425092566
Tel.: +49 (0) 69 83 06-0
Fax: +49 (0) 69 83 06-555
Bankkonto
Commerzbank AG
BLZ 500 800 00
Kto.Nr.: 198 027 000
S.W.I.F.T.-Code:
DRES DE FF XXX
IBAN
DE 91500800000198027000
.../3
Benannte Stelle nach dem Produktsicherheitsgesetz (ProdSG)
und der EMV-Richtlinie 2004/108/EG. Akkreditiert nach
DIN EN ISO/IEC 17021, 17025 und DIN EN 45011.
Anerkannte Prüf- und Zertifizierungsstelle für internationale
(IECEE und IECQ) und europäische Zertifizierungssysteme
(CCA, HAR, ENEC).
A
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AS6/swa
Measure (English only)
6
Maßnahmen zur
Fehlervermeidung
Measures to avoid
errors
Measure
•
General
development
process & test
•
Specification
Reference
Detail / document
Reference
N/A
Team.pdf
isp_process_overview.pdf
Described in Application
Note AN1778 & Class B
H.11.12.3.2
Library Help.pdf
•
Architecture
Described in Application
Note AN1778 & Class B
H.11.12.3.2.2
Library Help.pdf
•
Module design
•
Design & coding
standards
Testing
•
Remark
•
7
Benutzung
Usage
•
•
•
8
Ergebnis
Result
•
•
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9
Fehlerabdeckung
Diagnostic coverage
EIN UNTERNEHMEN DES
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•
•
•
•
Code walkthrough’s
Test in emulator/debugger
Microchip standard
H.11.12.3.2.4
Code walkthrough’s
H.11.12.3.3
Test in emulator/debugger
Hardware injection
The application of the V-Model based development is not perfectly
fitting for self-diagnostic libraries, due to its 1 dimensional approach
and simple structure, nevertheless applicable measures / methods
have been applied.
Die Module sind zur Einbindung in eine übergeordnetes
Selbstdiagnoseprogramm vorgesehen, welches vom Hersteller der
Steuerung zur Prüfung vorzulegen ist.
The modules are intended to be included in a supervisory selfdiagnostic program which has to be presented for approval by the
manufacturer of the electronic control.
Die geprüften Module erfüllen die Anforderungen gemäß der unter 2
genannten Prüfbestimmungen.
Die Einbindung der Module ist in der jeweiligen Applikation zu prüfen.
The tested modules fulfil the requirements according the test
specifications referred in chapter 2.
The implementation of the modules has to be tested in each
application.
IEC 60335-1(ed.5);am1
Anhang R Table R1 & R3 (*soweit anwendbar)
Annex R Table R1 & clause R3 (*as far as applicable)
IEC 60730-1(ed.5)
Anhang H Tabelle 1 & H11.12.3 (‚soweit anwendbar)
Annex H table 1 & H11.12.3 (*as far as applicable)
Q VERBAND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMATIONSTECHNIK e.V.
Geschäftsführer
Dipl.-Ing. Michael Jungnitsch (Vors.)
Dipl.-Ing./Dipl.-Kfm. Wilfried Jäger
EUR-/Dipl.-Ing. Wolfgang Niedziella
Merianstrasse 28
63069 Offenbach
E-mail: vde-institut@vde.com
http://www.vde.com
H.11.12.3.2.3
Gerichtsstand:
Frankfurt am Main
HRB 43618
USt.-IdNr.: DE261922990
Steuer-Nr.: 04425092566
Tel.: +49 (0) 69 83 06-0
Fax: +49 (0) 69 83 06-555
Bankkonto
Commerzbank AG
BLZ 500 800 00
Kto.Nr.: 198 027 000
S.W.I.F.T.-Code:
DRES DE FF XXX
IBAN
DE 91500800000198027000
.../4
Benannte Stelle nach dem Produktsicherheitsgesetz (ProdSG)
und der EMV-Richtlinie 2004/108/EG. Akkreditiert nach
DIN EN ISO/IEC 17021, 17025 und DIN EN 45011.
Anerkannte Prüf- und Zertifizierungsstelle für internationale
(IECEE und IECQ) und europäische Zertifizierungssysteme
(CCA, HAR, ENEC).
A