Optiksoftware

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Optiksoftware

Seite 229
Optiksoftware
WinLensTM
WinLens, Übersicht
WinLens, Freeware
WinLensTM Plus / WinLensTM 4.4
Tolerancer
Glass Manager
Material Editor
PreDesigner
„Lens Design Elements“
230
231
232
234
235
236
237
238
TracePro®
Opto-mechanische Design Software TracePro®
TracePro®, Übersicht
TracePro®, Programmbeschreibung
TracePro®, Vergleichstabellen
TracePro®
TracePro Bridge™ für SolidWorks®
TracePro® CAD-Dateiübersetzer
TracePro® Wartungs- und Supportverträge
TracePro® Schulungsprogramme
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240
240
242
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248
248
249
www.linos.com
Optiksoftware
Optiksoftware Optiksoftware
Seite
230 Optiksoftware | Winlens
Optiksoftware
| Winlens
Optiksoftware | TracePro
WinLens, Übersicht
Vier Programme zum Thema Optik-Design in einem Paket.
Für professionelle Optik-Designer und Einsteiger gleichermaßen
geeignet.
Software package WinLensTM Plus
für PCs unter Microsoft®WindowsTM
bestehend aus den 4 Einzelprogrammen:
G302010000
-413,282 Dünne Schichten
 Für die Nutzung des WinLensTM Plus - Softwarepakets ist eine
0/-417,262 Dünne Schichten | Antireflexschichten
kostenpflichtige Lizenz (Lizenzdatei) erforderlich, die Sie mit
-421,013
Dünne Schichten
| Metallspiegelschichten
der Bestellung
dieses Produktes
erhalten.�.
ektrische Spiegelschichten Dünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten
-429,055 Dünne Schichten | Strahlteilerschichten
-434 Dünne Schichten | Dünnschichtpolarisatorschichten
• Für professionelles Optik-Design
• Ideales Werkzeug zur Komponenten- und Systementwicklung
• Analyse optischer Systeme anhand von aussagekräftigen
Tabellen und Diagrammen
• Nutzung von LINOS-Standardkomponenten
• Effiziente Optimierung unter Benutzung relativer Defekte
• Umfangreiche Engineering Features
WinLensTM Plus
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
Magneto und Elektro Optik
Magneto und Elektro Optik | Faraday Isolatoren
Magneto und Elektro Optik | Lasermodulatoren
Magneto und Elektro Optik | Pockelszellen
• Zur Bestimmung von Toleranzen der Konstruktionsparameter
optischer Systeme
• Statistische Toleranzanalyse von Fertigungstoleranzen
• Analyse der Sensitivität einzelner Parameter
• Ideale Hilfe für die Entwicklung und Fertigung optischer
Systeme (geeignet zur Kostenreduzierung)
• Komfortable Erstellung von ISO-Zeichnungen
Tolerancer
Rodenstock Foto-Objektive Rodenstock Foto-Objektive
e | Analoge Fachfotografie
Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
Glass Manager
e | Digitale Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Digitale Fachfotografie
ergrößerungstechnik/ CCD Rodenstock Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/ CCD
o-Objektive | Qualitätsfilter Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
ektive | Asphärische Lupen Rodenstock Foto-Objektive | Asphärische Lupen
• Datenbankprogramm zu den optischen Gläsern aller
bedeutenden Glashersteller
• Übersichtliche Darstellung der Glaskatalogdaten in Tabellen
und Diagrammen
• Für Sortierung und schnellen Vergleich aller Glasarten
• Zur Glasauswahl nach Vorgabe von Suchkriterien
• Ideales Hilfsmittel für die Entwicklung (Optical Design) und
die Fertigung optischer Komponenten und Systeme
• Effiziente Zusatzsoftware zur Generierung, Editierung und
Verwaltung von Daten optischer Sondermaterialien
• Vollständige Erfassung anwenderspezifischer Materialdaten
• Automatische Berücksichtigung und Aktualisierung
• der Materialdatenbanken von WinLensTM Plus, Tolerancer und
Glass Manager
Material Editor
Tech. Info zur Optik Tech. Info zur Optik
 PC-Minimal-Konfiguration:
Pentium Prozessor (300 MHz Minimum) / 64 MB RAM
SVGA Monitor (800x600 Minimum)
30 MB freier Festplattenspeicher
WindowsTM 9x, ME, NT, 2000, XP
 Weitere Information, Manuals, Downloads und Updates
finden Sie auf unserer Webseite: www.winlens.de
LINOS Beratung und Verkauf
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
sales@linos.de
Optiksoftware | Winlens Optiksoftware | Winlens
Seite 231
WinLens, Freeware
Neben dem kostenpflichtigen Software Paket G302010000 sind
weitere Programme kostenlos erhältlich:
 Kostenlose Downloads unter www.winlens.de
-413,282
0/-417,262
-421,013
ünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten
-429,055
-434
Dünne Schichten
Dünne Schichten | Antireflexschichten
Dünne Schichten | Metallspiegelschichten
Dünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten
Dünne Schichten | Strahlteilerschichten
Dünne Schichten | Dünnschichtpolarisatorschichten
free
• Kostenlose Basisversion des WinLensTM Optik-DesignProgramms
• Zur Komponenten- und Systementwicklung
• Analyse optischer Systeme anhand von Tabellen und
Diagrammen
• Nutzung von LINOS-Standardkomponenten
• Ideales Lern- und Lehrprogramm für die Technische Optik
WinLensTM 4.4
-476,647
-479,298
-483,212
free
-487,16
PreDesigner
Lens Library
free
Rodenstock Foto-Objektive
nstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
nstock Foto-Objektive | Digitale Fachfotografie
k Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/ CCD
Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
odenstock Foto-Objektive | Asphärische Lupen
• Kostenlose Software zur Bestimmung und Darstellung
Magneto und Elektro Optik | Pockelszellen• der Grundgrößen optischer Systeme
• Zur Vorauswahl geeigneter Systemparameter
• Hilfreich für verschiedene Fachdisziplinen (z.B. Fotografie,
Messtechnik, Bildverarbeitung)
• Besonders wertvoll als Lern- und Lehrprogramm
• Kostenlose Datenbank mit optischen Systemen und
Sonderkomponenten (LINOS-Produkte) für die Nutzung mit
WinLensTM
• Zusätzliche umfangreiche Objektivbibliothek mit
• Systemen aus der Fach- und Patentliteratur
Rodenstock Foto-Objektive | Digitale Fachfotografie
• Auswahl von Beispielsystemen, basierend auf
Rodenstock Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/
CCD
Standardkomponenten
Rodenstock Foto-Objektive | Asphärische Lupen
 PC-Minimal-Konfiguration:
Pentium Prozessor (300 MHz Minimum) / 64 MB RAM
SVGA Monitor (800x600 Minimum)
30 MB freier Festplattenspeicher
WindowsTM 9x, ME, NT, 2000, XP
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Optiksoftware
Seite
Optiksoftware
| Winlens
WinLensTM Plus / WinLensTM 4.4
-413,282
0/-417,262
-421,013
ektrische Spiegelschichten
-429,055
-434
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
e | Digitale Fachfotografie
ergrößerungstechnik/ CCD
o-Objektive | Qualitätsfilter
ektive | Asphärische Lupen
Dünne Schichten
Rodenstock Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/ CCD
System
 sphärische und asphärische Flächen
(rotationssymmetrisch, Flächenbeschreibung auch
mit normierten Koeffizienten und Zernike-Koeffizienten)
 zylindrische und torische Flächen
 Gradientenindex-Linsen (LINOS-GRIN-Linsen)
 Glasblöcke und Blenden
 Flächenbeschichtungen (LINOS-Coatings)
 Medien zwischen den Komponenten Tech. Info zur Optik Tech. Info zur Optik
(Luft, Wasser, Spezialmedien)
 Spiegel mit und ohne Zentralbohrungen
 Zoom-Systeme (Mehrfachkonfigurationen)
 Systemansatz mittels dünner Linsen (Paraxialansatz) *
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
Parameter
 Objekt- und Bildlagen
 Objekt- und Bildgrößen
 Vergrößerung
 Apertur (Numerische Aperturen, Pupillenradien, Blendenradius, Blendenzahl)
 Wellenlängen
 Medien im Objekt- und Bildraum vorgebbar (Luft, Wasser, Glas, Spezialmedien)
 Bildkrümmungsradius
 Defokussierung
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
sales@linos.de
Seite 233
Analyse
Datenbanken
 Analyse für beliebige Wellenlängen
 LINOS-Komponenten (Einzellinsen, Doublets/Achromate)
 Linsenschnitt mit Strahlen (Datenausgabe  Auswahl auch nach Vorgabe für:
als DXF-Datei möglich)
- Linsentyp
 optischen Grunddaten:
- ungefasst, gefasst, Mikrobank-gefasst
- Paraxialdaten (Brennpunkt-, Hauptpunkt-, Pupillenlagen) - Brennweitenbereich
- paraxiale Strahldurchrechnung
- Aperturbereich
 Systemdaten in Tabellenform
 Material (optische Gläser, Sondermaterialien)
 Grunddaten einzelner
Elemente - Glasdatenbanken aller bedeutenden Hersteller
-413,282Flächen,
Dünne Schichten
und Komponenten
0/-417,262 Dünne Schichten | Antireflexschichten - aktive Glasauswahl durch benutzerdefinierte
 Linsenform-Analyse:
Pfeilhöhen,
Randabstände
*
Glasdiagramme *
-421,013
Dünne Schichten

Formanalyse
asphärischer
Flächen
*
- benutzerdefinierte Materialdatenbank ünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten Dünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten
 Linsengewichte -429,055 Dünne Schichten | Strahlteilerschichten  Coating (LINOS-Beschichtungen optischer Flächen)
 interne Absorptionsverluste
- Breitbandentspiegelungen
 Transmissionen
- Schwerpunktentspiegelungen
 Sensitivitätsanalyse mittels Variationstabellen - Zentralwellenlänge anpassbar
für Paraxialdaten und Seidelfehler *
 optische Systeme (separate Datenbank / Lens Library)
(Differential-/Differenzenquotienten)
- Strahlaufweitungssysteme
 Strahldurchrechnung (ray tracing)
- Kondensorsysteme
 Gaußstrahlrechnung für Laseranwendungen
- Mikroprojektionsobjektive
 Bildqualität:
- Hoch-Apertur-Laserobjektive (HALOs)
- optische Weglängendifferenzen (Wellenaberrationen) - Mikroskopobjektive, Okulare
- Queraberrationen
- umfangreiche Systembibliothek basierend auf
- Längsaberrationen
Fach- und Patentliteratur (separat downloadbar)
- chromatische Längsaberration
-476,647 Magneto und Elektro Optik
- Abweichungen-479,298
von Sinusbedingung
und
Optimierung *
Isoplanasiebedingung
*
 effiziente Optimierungsroutinen
-483,212 Magneto und Elektro Optik | Lasermodulatoren
- Feld-Aberrationen
(Bildfeldwölbung,
Astigmatismus,
-487,16
Magneto und Elektro
Optik | Pockelszellen Wahl variabler Systemparameter
Verzeichnung, Farbqueraberration)
 Wahl von Parametergrenzen
- Spot-Diagramme
 Bildung der Merit-Funktion mittels relativer Defekte
- geometrische Modulationsübertragungsfunktion
 Bestimmung der Variablenwirksamkeiten
(MTF):
 Hilfsroutine für Zusammenstellung der Zielfunktion
- MTF als Funktion der Ortsfrequenz
 Rekorder für Optimierungsverlauf
- MTF als Funktion der Bildgröße *
- Through-Focus-MTF
Weiteres
- Delano-Diagramme
 Slider: Justierung einzelner Komponenten durch
- relative Beleuchtungsstärke *
einfache Variation der Systemdaten
- Transmissionsfunktionen (axial und  Benutzerdefiniertes Glasdiagramm
für
alle
Hauptstrahlen)
 Import von Datenfiles
- Seidel-Pegeldiagramme
 Export von Datenfiles: nstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
 Geisterbildanalyse (ghost analysis) *
Code V, Sigma, Oslo, Zemax
nstock Foto-Objektive | Digitale Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Digitale Fachfotografie
- grafische und tabellarische Auswertung
 Export von Tabellendaten in Excel- und HTML-Formate
k Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/ CCD Rodenstock Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/ CCD
 umfangreiche Darstellungen durch
Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
Editierung
- Mehrfachlinsenschnitte mit Festlegung
odenstock Foto-Objektive | Asphärische Lupen Rodenstock Foto-Objektive | Asphärische Lupen
 Systemdateneditor für Komponenten
von Bezugsflächen
 Systemdateneditierung in Flächentabelle
- Mehrfachtabellen für Paraxialdaten und Seidelfehler
 unbegrenzte Anzahl von Komponenten und - Mehrfachdiagramme für Aberrationen, Spots,
Konfigurationen (Zooms)
MTFs usw.
 Verknüpfung von Komponenten (pick-ups)
- Freeze-Funktionen für Systemvergleiche
 Tool Fitting für existierende LINOS-Werkzeuge
- Bookmark-Funktionen für Systemvergleiche *
 Verschiebung und Skalierung von
 Definition von Modulen und Gruppen
Elementen und Gruppen
zur Subsystem-Analyse *
 Systemparameter (Konjugierte Größen,
Apertur, Feld, Wellenlängen)
* diese Funktionen sind nicht in der
 Wellenlängen-Editor (zur Auswahl von Standard Basisversion WinLensTM 4.4 verfügbar
und Sonderwellenlängen)
 Auswahl alternativer Glasarten
 Berücksichtigung realer Glasschmelzen
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Optiksoftware
Seite
Optiksoftware
| Winlens
Tolerancer
 Weitere Information, Manuals, Downloads und Updates finden Sie auf unserer
Webseite: www.winlens.de
-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
Dünne Schichten
-479,298 Magneto und Elektro Optik | Faraday Isolatoren
Sensitivitätsanalyse für symmetrische und
-487,16 Magneto und Elektro Optik | Pockelszellen
asymmetrische Fehler und Formfehler
 Symmetrische Fehler:
Radien, Abstände, Brechzahlen, Abbe-Zahlen
 Asymmetrische Fehler: Verkippungen,
Dezentrierungen, Keilfehler, Rollfehler
 Formfehler: Flächenpassen
 Fehlerauswirkungen durch Variation der einzelnen
Systemparameter innerhalb vorgegebener
Inkremente auf:
- Paraxialdaten (Brennweite und Schnittweite)
- Seidelsche Bildfehlersummen
- Aberrationen (Astigmatismus, Wellenfronte | Analoge Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
deformation, usw.)
- Systemperformance (MTF, Spotdiagramm)
- Pegeldiagramme zur Darstellung der o-Objektive | Qualitätsfilter Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
relativen Empfindlichkeiten
Toleranz-Editoren
 einfache Vorgabe von Fertigungstoleranzen in Tabellenform (Zentrierfehler, Passe, usw.)  Möglichkeit der automatischen Toleranzfestlegung
durch Wahl von „Default“-Toleranzen in mehreren
Genauigkeitsstufen (normal, präzise, extra präzise)
 einfache Vorgabe zulässiger Leistungsvariationen in
Tabellenform (Paraxialdaten, Seidelsche Bildfehler,
Feldfehler, Strahlaberrationen)
 Abschätzung der Toleranz-Tauglichkeit in Hinblick auf
Tech. Info zur
Tech. Info
zur Optik Variationen von Paraxialdaten
Optik
geforderte
maximale
und Aberrationen
 farbliche Warnung bei Verlassen des zulässigen
Bereichs der Leistungsdaten
 Toleranzbestimmung durch inverse
Sensitivitätsrechnung
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
Statistische Toleranzanalyse
 Monte-Carlo-Analyse optischer Systeme mit vorher
definierten Fertigungstoleranzen, dadurch:
- Bestimmung statistischer Variationsbreiten
- Kompensation während der Simulation durch z.B. Nachfokussierung
- grafische Online-Darstellung der Aberrationen und
Leistungsgrafiken während der Monte-Carlo-
Analyse
- grafische Anzeige der Standardabweichung - tabellarische Gegenüberstellung der nominalen
und der Monte-Carlo-simulierten Aberrationen
- Anzeige der in der Simulation variierten Konstruktionsparameter für jeden Simulationsschritt
- Eingabe und Analyse realer Toleranzwerte
 ISO 10110-Zeichnungen
- Beschriftung deutsch / englisch wählbar
- benutzerdefinierbare Symbole
- Ausgabe als dxf oder bmp
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
sales@linos.de
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Glass Manager
 Weitere Information, Manuals, Downloads und Updates finden Sie auf unserer
Webseite: www.winlens.de
-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
Dünne Schichten
Optiksoftware
-476,647
-479,298
-483,212
 Datenbank mit aktuellen
-487,16
Glassortimenten der
 tabellarische Darstellung der Glasdaten für:
Hersteller Schott, Ohara, Hoya, Corning, Sumita, - Brechungsindizes
Pilkington und Hikari sowie weiterer Spezialgläser
- Dispersionskonstanten
 Ergänzung der Glasliste mit benutzerdefinierten
- relative Teildispersionen
Materialdaten durch Material Editor (s. nächste Seite)
- Transmissionskoeffizienten
 Übersichtspläne (Glastafeln, grafische Darstellung mit
- chemische Konstanten
Zoom-Funktion) für alle Glasarten bzw. einer Auswahl: - mechanische Konstanten
- n-ν-Diagramm
- thermische Konstanten
- P-ν-Diagramme (relative Teildispersionen)
 Auswahl von Glasarten nach Vorgabe - n-Dichte-Diagramm
von Suchfeldern
 Wellenlängenvorgabe aus standardisierten oder
 Vergleichstabelle für zwei Glasarten (nach Auswahl)
benutzerdefinierten Tabellen oder Definition  Erfassung von Daten realer Glasschmelzen
beliebiger Wellenlängen
 Doublet-Maker: Bestimmung von geeigneten nstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
 benutzerdefinierbare Glastafeln durch Wahl der Glaspaaren (für Achromate o.ä., Simulation von
Achsen (Parameterauswahl)
Pseudo-Gläsern)
 wählbare Farbcodierung für Glastyp, Hersteller  Datenblattdruck
und Glaseigenschaften
 Druck aller Tabellen und Grafiken
 Unterscheidung (mit wählbarer Farbcodierung) nach
Vorzugsgläsern, umweltverträglichen Gläsern
(Öko-Gläser) und Verfügbarkeit
 grafische Darstellung (mit Zoom-Funktion) der optischen Eigenschaften:
- Brechungsindex als Funktion der Wellenlänge
(Dispersionsdiagramm)
- erste und zweite Ableitungen der Dispersion
- interne und totale Transmission als Funktion der Wellenlänge
www.linos.com
Seite
Optiksoftware
| Winlens
Material Editor
-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16

Dünne Schichten
Hilfsprogramm zur Generierung, Editierung und Rodenstock Foto-Objektive Rodenstock Foto-Objektive
Verwaltung von benutzerdefinierten optischen
e | Analoge Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
Sondermaterialien
 Erzeugung einer separaten Datenbank und
ergrößerungstechnik/ CCD Rodenstock Foto-Objektive | Vergrößerungstechnik/
CCD
Synchronisation mit WinLensTM Plus, Tolerancer und
o-Objektive | Qualitätsfilter Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
Glass Manager

erfasste Daten:
- Glasname und Quelle
- spektrale Brechzahlen oder Dispersionskoeffizienten
- spektrale Transmission oder spektrale Absorption
- Druck- und Temperaturkoeffizienten der Brechzahl
(nach Schott-Sellmeier-Formel)
- chemische, mechanische und thermische Konstanten
 Polynom-Fit für spektralen Brechzahlverlauf nach
Sellmeier-, Schott-, Schott-Plus- oder Cauchy-Formel
 Import von Zemax- und Oslo-Materialdaten
 Export der Daten als Textdatei
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
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Seite 237
PreDesigner
-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
Dünne Schichten
Optiksoftware
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16

kostenlose Software zur Bestimmung der
Grundgrößen der optischen Abbildung
nstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
 Darstellung der paraxialen Eigenschaften
optischer Systeme
 Auswahl der konjugierten Größen und
der Feld- und Aperturparameter
 Eingabeunterstützung durch Auswahltabellen
 Übersichtliche Tabelle aller resultierenden Größen
 grafische Darstellung des paraxialen Layouts
 Darstellung von Real- und Konstruktionsstrahlen
 Variation der Parameter mittels Slidern
(mit Real Time Update der Tabelle und Grafik)
 Wechsel zwischen Linsen- und Spiegelmodus
 Berechnung von Schärfentiefebereiche und
Fixfokus-Entfernungen
 Vorgabe von anwenderspezifischen Symbolen
 hilfreich zur Objektivauswahl
 auch geeignet als Lehr- und Lernprogramm
 Software in englisch und deutsch verfügbar
 grafische Darstellung von realen Systemansätzen
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Seite
Optiksoftware
| Winlens
„Lens Design Elements“
-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
e | Digitale Fachfotografie
Dünne Schichten
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
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Seite 239
TracePro®
Opto-mechanische Design Software TracePro®
TracePro®, Programmbeschreibung
TracePro®
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Optiksoftware
www.linos.com
Seite 240 Optiksoftware | TracePro
Die Optomechanische Konstruktionssoftware TracePro ist ein umfassendes und vielseitiges Software-Tool zur modellhaften Darstellung
der Ausbreitung von Licht in bildgebenden und nicht bildgebenden
optomechanischen Systemen.
Die Modelle werden per Import aus Linsenkonstruktionsprogrammen
-413,282
Dünne Schichten
oder CAD-Programmen
oder durch direkte Programmierung der
0/-417,262
Dünne Schichten
Körpergeometrie
in TracePro| Antireflexschichten
erzeugt. Quellstrahlen breiten sich durch
das ModellDünne
aus, wobei
Teile| des
Lichtstroms jedes Strahls Absorption,
-421,013
Schichten
Metallspiegelschichten
Reflexion an
glatten
Oberflächen
und Transmission,
Fluoreszenz und
Dünne
Schichten
| Dielektrische
Spiegelschichten
Streuung unterworfen
werden.
Mit dem Modell und der Strahlenverfol-429,055
Dünne Schichten
| Strahlteilerschichten
gung lassen sich folgende Analysen erstellen:
•
•
•
•
•
•
•
•
TracePro bietet eine einfache, intuitive Bedienoberfläche mit kurzer
Lernphase für Techniker und Wissenschaftler aller Fachgebiete, die
gleichzeitig leistungsfähig und benutzerfreundlich ist.
TracePro ist in drei verschiedenen Editionen erhältlich, um unterschiedliche Konstruktionsanforderungen möglichst kostengünstig decken
zu können. Für die Nutzung an einem einzigen Computer mit einem
USB-Hardware-Key sind „Node locked“-Lizenzen und für den Einsatz in
einem Netzwerk „Floating Network“-Lizenzen erhältlich.
Mit allen Lizenzen ist ein dreimonatiger Wartungs- und Supportvertrag
verbunden.
Lichtverteilung in Beleuchtungs- und Bilderzeugungssystemen
Nebenlicht, Streulicht und Blendenbeugung
Durchsatz, Verlust oder Systemdurchlässigkeit
Absorption von Lichtstrom oder Leistung durch Oberflächen
oder Volumenmedien
Lichtstreuung in biologischen Geweben
Polarisierungseffekte
Fluoreszenzeffekte
Doppelbrechungseffekte
®
-476,647
Magneto
und Elektro Optik
TracePro
, Programmbeschreibung
Solid Modeling
Körpermodelle
per Import von Dateien aus
-483,212
Magneto
und Elektro werden
Optik | Lasermodulatoren
Linsenkonstruktionsprogrammen
oder| Pockelszellen
CAD-Programmen oder durch
direkte Programmierung der Körpergeometrie in TracePro erzeugt.
Der Anwender kann Objekte und Oberflächen mit der anwenderfreundlichen 3D-CAD-Bedienoberfläche definieren, positionieren, bewegen,
drehen, skalieren, abtasten und rotieren lassen und spezielle Tools
zum Einfügen optischer Elemente wie beispielsweise Linsenelemente,
Fresnel-Linsen, Röhren (Linsenträger) und Blenden nutzen.
Das 3D-Modell kann gezoomt, geschwenkt, rotiert und gerendert
werden.
Material- und Oberflächeneigenschaften
Rodenstock
Foto-Objektive
Objekten und
Oberflächen
im Körpermodell werden Material- und
| Analoge
Oberflächeneigenschaften
zugewiesen.
Es gibt Fachfotografie
unter anderem folgende
Eigenschaften:
ve | Digitale Fachfotografie
- Material Rodenstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
- Refraktion
- Fresnel-Reflexionen
- Volumenabsorption
- Volumenstreuung
- Gradienten-Index
- Doppelbrechung
- Oberflächen
- Reflexion
- Beschichtungen
- Dünnschichtlagen
- Streuung
- Oberflächenabsorption
- Rasterungen
- Temperatur
und
Temperaturverteilung
Tech. Info zur
Optik Tech.
Info
zur Optik
- Polarisierung
- Fluoreszenz
- Beugung
- RepTile™-Oberflächen mit zufälligen oder periodischen Arrays
wiederholter Strukturen
- Oberflächenlichtquellen
- Lichtstrom
- Irradianz
- Schwarzkörper/Graukörper
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
Der Anwender kann Eigenschaften definieren oder aus dem TraceProEigenschaftenkatalog mit häufig eingesetzten und handelsüblichen
Materialien und Beschichtungen auswählen:
- Optische Gläser
- Optische Dünnschichten
- Antireflektion, Metalle, Isolatoren, dichroitische und Interferenz-Filter
- Kunststoffe
- Oberflächenbearbeitungen
- eloxiert, mechanisch texturiert, streuende und absorbierende Farben
- Gradienten-Index-Werkstoffe
- Drahtgitterpolarisatoren
Es werden ständig neue und aktualisierte Eigenschaften erarbeitet und
Anwendern mit Wartungs- und Supportverträgen zugänglich gemacht.
www.support.lambdares.com
Raytrace
TracePro simuliert die Verteilung der Strahlung über ein Modell oder
auf ausgewählten Oberflächen mit Raytracing (Strahlenverfolgung).
Lichtquellen
Beim Raytracing gibt es drei Verfahren zum Definieren von Strahlen, die
in das Modell gelangen – über Gitter, Oberflächen und Dateiquellen.
Für eine Gitterlichtquelle muss der Anwender folgende Daten eingeben:
- Räumliches Strahlenprofil und Gewichtung
- gleichförmig, Gauß
- Räumliche Gaußstrahl-Dimensionen
- x, y Taille bei 1/e2 Radius
- Winkelstrahlenprofil und Gewichtung
- gleichförmig, Gauß, Lambert, Solar
- Winkelstrahlendimensionen
- Strahlorientierung
- Polarisierungszustand
- Polarisierungsgrad
Eine Oberflächenlichtquelle emittiert Strahlen in einer definierten
Winkelverteilung von einer oder mehr Flächen eines Festkörpers. Der
Anwender spezifiziert den Lichtquellentyp mit Flussdichte, Irradianz,
Schwarzkörper oder Graukörper.
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
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Eine Dateiquelle enthält Strahlungsdaten und kann in TracePro eingefügt werden. Die Daten bestehen aus den XYZ-Anfangskoordinaten
jedes Strahls, XYZ-Richtungsvektoren für jeden Strahl und einer Flussdichte. Eine Dateiquelle ermöglicht:
Seite 241
Strahlsortierung
Die Strahlsortierung steuert die Anzeige von Strahlen im Modellfenster und kann für Graphiken und Tabellen angewendet werden. Die
angezeigten Strahlen können nach folgenden Kriterien sortiert werden:
- Einfügen von tatsächlich gemessenen Lichtquellenverteilungsdaten
- Alle Strahlen
aus der Radiant Imaging-Software in das TracePro-Modell
- Nur Strahlen, die auf eine gewählte Oberfläche auftreffen
- Erzeugen einer Quelle aus theoretischen oder gemessenen Daten
- Nur gespiegelte, keine gestreuten Strahlen
einer anderen-413,282
Software Dünne Schichten
- Nur Strahlen, die ein- oder mehrfache Streuung erfahren haben
- Wellenlänge
Raytracing
- % ausgehender Strahlen
-421,013 Dünne Schichten | Metallspiegelschichten
In den TracePro-Editionen Standard und Export sind anwenderspeichten | Dielektrische
Dünne
Schichten
| Dielektrische Spiegelschichten
Berichte
zifische Spiegelschichten
Optionen verfügbar,
mit denen
Geschwindigkeit
und/oder
-429,055
Dünne Schichten
TracePro kann Raytracing- und Eigenschaftsberichte erzeugen. Der
Genauigkeit der
Strahlenverfolgung
verändert
werden können:
-434 Dünne Schichten | DünnschichtpolarisatorschichtenLichtstrombericht gibt in einer Zusammenfassung Oberfläche, Anzahl
einfallender Strahlen, einfallende und absorbierte Lichtströme und
- Importance Sampling
verlorenen Lichtstrom an. Es werden Daten für Volumenabsorption und
- Strahlen-Splitting
Einfallsbeugung für jedes Objekt angegeben.
- Exakte Strahlenverfolgung
- Beschleunigte Strahlenverfolgung
Der Eigenschaftsdatenbericht enthält die Eigenschaftsdaten des Mod- Facettierte Strahlenverfolgung
ells und kann in eine TXT-Datei exportiert werden.
- Simulationsmodus
- Mehrfachaustrittsoberflächen (Simulationsmodus)
- Voxelisierung im Objektraum
Der Raytracing-Bericht enthält die physische und virtuelle Speichernut- Blendenbeugung
zung und die verstrichene Raytracing-Zeit.
Analyse
Das Analysemenü von TracePro bietet eine umfassende Palette von
Tools zum Anzeigen und Analysieren der Ergebnisse der Strahlenverfol-479,298 Magneto und Elektro Optik | Faraday Isolatoren
gung.
Irradianz- und -487,16
Illuminanz-Karten
Eine Irradianz-Karte zeigt die einfallende oder absorbierte Irradianz
auf einer gewählten Oberfläche. Es gibt verschiedene Kartenarten mit
unterschiedlichen darzustellenden Größen:
- Irradianz, Darstellung der Leistung in Watt pro Flächeneinheit oder
Lux, einfallend oder von einer Oberfläche absorbiert
- CIE (x,y) und CIE (u1,v1), Farbdarstellungen in CIE-Koordinaten
- Bitmap RGB und True Color
Irradianz-/Illuminanz-Betrachter
Mit dem Irradianz-/Illuminanz-Betrachter kann der Anwender als Textdateien gespeicherte Irradianz-/Illuminanz-Karten anzeigen und Daten
aus verschiedenen Karten miteinander kombinieren.
Konstruktion, Makro-Programmiersprache
TracePro enthält die Programmiersprache Scheme, eine leistungsfähige und flexible Makro-Programmiersprache für das Manipulieren
von Darstellungen, Bearbeiten der Geometrie und Schreiben von
Makro-Programmen. Der Makrorekorder von TracePro erfasst die
während einer Session verwendeten TracePro-Befehle und speichert die
entsprechenden Scheme-Befehle in einer Datei. Diese Datei kann dann
ausgeführt werden.
TracePro-Anwendungen:
Die Graphikausgabe wird über die Anzeigeoptionen gesteuert. Die
• Biowissenschaften
Ergebnisse einer Irradianzberechnung können in andere Softwarepa• Industrielle Produktion
kete wie beispielsweise Excel exportiert und die Daten und Graphiken
• Messtechnik
als Text- und Bitmap-Dateien gespeichert werden.
to-Objektive | Analoge Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Analoge Fachfotografie
• Prüfung
oto-ObjektiveLuminanz| Digitale Fachfotografie
• Werkstoffverarbeitung
/Radianz-Karten
bjektive | Vergrößerungstechnik/
CCD Rodenstock
Foto-Objektive
| Vergrößerungstechnik/
Machine Vision
Nachdem eine Luminanz-Karte
mit Raytracing
bearbeitet
wird, kann sie • CCD
enstock Foto-Objektive
Qualitätsfilter
Rodenstock
Foto-Objektive
| Qualitätsfilter
abhängig |von
den Wellenlängen
der verfolgten
Strahlen
als True Color- • Prozesssteuerung
oder| photorealistisches
dargestellt
werden.
Die Ergebnisse
ck Foto-Objektive
Asphärische LupenRendering
Rodenstock
Foto-Objektive
| Asphärische
Lupen • Automatisierung und Robotik
des Raytracing können entweder als Luminanz- oder Radianz-Karte mit • Halbleiterverarbeitung und -Messtechnik
• Informations-Technologie
photometrischen Einheiten (cd/m², Foot-Lambert oder Millilambert)
beziehungsweise radiometrischen Einheiten (W/m²) dargestellt werden. • Daten und Telekommunikation
• Datenspeicherung
• Lieferketten: Strichcodes und RFID
3D-Irradianz-Graphiken
• Drucken und Reprotechnik
3D-Irradianz-Graphiken zeigen den einfallenden Lichtstrom auf aus• Scannen
gewählte Oberflächen oder Objekte.
• Imaging
• Luft- und Raumfahrt
Candela-Graphiken
• Luftfahrt
Candela-Graphiken stellen die Lichtstärke des Lichtstroms pro Raum• Astronomie
winkel dar. Diese Intensitätsgraphiken werden in photometrischen
• Wehrtechnik
Einheiten (Candela oder Lumen pro Steradiant) und radiometrischen
Tech. (Watt
Info zur
Tech. Info
zur Optik
• Umweltüberwachung und -erkundung
Einheiten
proOptik
Steradiant)
angegeben.
• Fernerkundung und LIDAR
• Sicherheit
Polarisierungs-Karten
• Energietechnik: Laser-Fusion
Polarisierungs-Karten stellen die Polarisierungsellipse des einfallenden
• Streulichtanalyse
Lichtstroms auf der gewählten Oberfläche dar. Der Grad der Polarisierung an Oberflächenpunkten wird dabei durch unterschiedliche Farben
dargestellt.
Einfallsstrahlentabelle
Eine Einfallsstrahlentabelle zeigt die Daten der auf einer gewählten
Oberfläche einfallenden Strahlen.
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Optiksoftware
Die folgenden Tabellen dienen Ihnen zum Vergleich der drei ProgrammVarianten. Finden Sie die für Ihre Bedürfnisse passende TracePro
Software
-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
Dünne Schichten
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
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-413,282
0/-417,262
-421,013
ichten | Dielektrische Spiegelschichten
-429,055
-434
Seite 243
Dünne Schichten
Optiksoftware
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
to-Objektive | Analoge Fachfotografie
oto-Objektive | Digitale Fachfotografie
bjektive | Vergrößerungstechnik/ CCD
enstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
ck Foto-Objektive | Asphärische Lupen
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-413,282
0/-417,262
-421,013
-429,055
-434
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
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-413,282
0/-417,262
-421,013
ichten | Dielektrische Spiegelschichten
-429,055
-434
Seite 245
Dünne Schichten
Optiksoftware
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
enstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
ck Foto-Objektive | Asphärische Lupen
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TracePro®
Die Optomechanische Konstruktionssoftware TracePro ist ein
umfassendes und vielseitiges Software-Tool zur modellhaften
Darstellung der Ausbreitung von Licht in bildgebenden und nicht
bildgebenden optomechanischen Systemen. Die Modelle werden
per Import aus Linsenkonstruktionsprogrammen oder CAD-Programmen oder durch direkte Programmierung der Körpergeometrie in Dünne
TracePro
erzeugt.
-413,282
Schichten
Quellstrahlen breiten sich durch das Modell aus, wobei Teile des
Lichtstroms jedes Strahls Absorption, Reflexion an glatten Oberektrische Spiegelschichten
Dünne
Schichten | Dielektrische
flächen und
Transmission,
FluoreszenzSpiegelschichten
und Streuung unterwor-429,055
Dünne
fen werden.
MitSchichten
dem Modell
und der Strahlenverfolgung lassen
sich-434
folgende
Analysen
Dünne
Schichtenerstellen:
| Dünnschichtpolarisatorschichten
•
•
•
•
•
•
•
•
TracePro bietet eine einfache, intuitive Bedienoberfläche mit
kurzer Lernphase für Techniker und Wissenschaftler aller Fachgebiete, die gleichzeitig leistungsfähig und benutzerfreundlich ist.
TracePro ist in drei verschiedenen Editionen erhältlich, um unterschiedliche Konstruktionsanforderungen möglichst kostengünstig decken zu können. Für die Nutzung an einem einzigen
Computer mit einem USB-Hardware-Key sind „Node locked“Lizenzen und für den Einsatz in einem Netzwerk „Floating
Network“-Lizenzen erhältlich.
Mit allen Lizenzen ist ein dreimonatiger Wartungs- und Supportvertrag verbunden.
Lichtverteilung in Beleuchtungs- und Bilderzeugungssystemen
Nebenlicht, Streulicht und Blendenbeugung
Durchsatz, Verlust oder Systemdurchlässigkeit
Absorption von Lichtstrom oder Leistung durch Oberflächen
oder Volumenmedien
Lichtstreuung in biologischen Geweben
Polarisierungseffekte
Fluoreszenzeffekte
Doppelbrechungseffekte
-476,647
-479,298
-483,212
-487,16
TracePro®
Bestell-Nr.
Bezeichnung
G303001000
TracePro Expert, Node Locked License
G303002000
TracePro Expert, Floating Network License
Rodenstock Foto-Objektive Rodenstock
Foto-Objektive
G303003000
TracePro
Standard, |Node
Locked
License
e | Analoge Fachfotografie Rodenstock
Foto-Objektive
Analoge
Fachfotografie
G303004000
TracePro
Standard, |Floating
License
Rodenstock
Foto-Objektive
DigitaleNetwork
Fachfotografie
G303005000
TracePro
LC,
Node
Locked
License
G303006000
TracePro
LC, Floating
Network License
Rodenstock
Foto-Objektive
| Qualitätsfilter
ektive | Asphärische
Lupen Rodenstock Foto-Objektive | Asphärische Lupen
 Systemvoraussetzungen:
Windows 2000, XP
1024 MB Arbeitsspeicher
128 MB verfügbarer Festplattenspeicherplatz
512MB Virtueller Speicher
USB Anschluss für Dongle
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
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Seite 247
TracePro Bridge ist ein Add-in für SolidWorks, mit dem der
Anwender optische Eigenschaften direkt auf das SolidWorksModell über den TracePro-Systembaum in SolidWorks anwenden
und speichern kann. Um die Datenintegrität sicherzustellen,
wird nur ein einziges Modell gemeinsam von TracePro für die
Strahlenverfolgung und optische Analyse und SolidWorks für die
Dünne
Schichten
mechanische-413,282
Konstruktion
und
die Bearbeitung der optischen
0/-417,262 Dünne
Schichten
| Antireflexschichten
Werkstoffeigenschaften
verwendet.
Mit
TracePro Bridge können
Anwender schrittweise
Konstruktionsprozesse
deutlich beschleu-421,013 Dünne
Schichten | Metallspiegelschichten
nigen, Spiegelschichten
ohne Abstriche bei
Leistung
oder
Funktionsumfang
zu
chten | Dielektrische
Dünne
Schichten
| Dielektrische
Spiegelschichten
machen.
-434
Bestell-Nr.
Bezeichnung
G303010000
TracePro Bridge für SolidWorks, Node Locked License
G303011000
TracePro Bridge für SolidWorks, Floating Network License
Optiksoftware









Systemvoraussetzungen:
TracePro 4.0 oder höher
SolidWorks 2007 sp2.1 oder höher
Systemvoraussetzungen:
Windows 2000, XP
1024 MB Arbeitsspeicher
128 MB verfügbarer Festplattenspeicherplatz
512MB Virtueller Speicher
USB Anschluss für Dongle
nstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
k Foto-Objektive | Asphärische Lupen
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Seite 248
TracePro enthält Übersetzer zum Im- und Exportieren von CADDateien im SAT (ACIS)-Format und zum Importieren aus dem
STL-Format. Zusätzlich sind weitere Übersetzer zum Im- und
Exportieren anderer CAD-Dateiformate separat als Add-ins
erhältlich.
 Zusätzlich
sind
Übersetzer für CATIA V4/V5 und AutoCad Inventor
-413,282
Dünne
Schichten
erhältlich.
0/-417,262
 Übersetzer
fürSchichten
Linsenkonstruktionsdateien
-421,013
Dünne
 TracePro enthält Übersetzer zum Importieren von Linsenkonstrukektrische Spiegelschichten Dünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten
tionsdateien handelsüblicher Programme wie CODE V, OSLO und
-429,055
ZEMAX.
Bestell-Nr.
Bezeichnung
G303020000
TracePro IGES Read/Write, Node Locked
G303021000
TracePro IGES Read/Write, Floating Network
G303022000
TracePro STEP Read/Write, Node Locked
-476,647
Magneto TracePro
und Elektro
G303023000
STEPOptik
Read/Write, Floating Network
-479,298
Magneto
und
Elektro
Faraday
Isolatoren
G303024000
TracePro Pro/EOptik
Read,| Node
Locked
-483,212
Magneto
und
Elektro
Optik
|
Lasermodulatoren
G303025000
TracePro Pro/E Read, Floating Network
Bewahren Sie sich den Wettbewerbsvorteil, den Sie durch TracePro erhalten, mit einem Jahres-Wartungs- und Supportvertrag.
Damit profitieren Sie über Software-Downloads mit umfangreichen Updates und zahlreichen Erweiterungen ein ganzes Jahr
lang von der kontinuierlichen Weiterentwicklung von TracePro.
Im Vertragsumfang ist auch der technische Support über Telefon
und E-Mail enthalten sowie eine optionale Eintragung für das
Rodenstock
Early Access
ProgramFoto-Objektive
von Lambda Research, mit dem Sie frühzeie | Analoge Fachfotografie
Foto-Objektiveerhalten.
| Analoge Fachfotografie
tig ZugriffRodenstock
auf Software-Updates
ve | Digitale Fachfotografie Rodenstock Foto-Objektive | Digitale Fachfotografie
ergrößerungstechnik/
Rodenstock
Foto-Objektive sind
| Vergrößerungstechnik/
CCD
 CCD
Wartungsund Supportverträge
auch für alle CAD-Übersetzer
erhältlich.
Bestell-Nr.
Bezeichnung
G303030000
TracePro Expert, Node Locked Subscription
G303031000
TracePro Expert, Floating Network Subscription
G303032000
TracePro Standard, Node Locked Subscription
G303033000
TracePro Standard, Floating Network Subscription
G303034000
TracePro LC, Node Locked Subscription
Tech. Info zur
Optik Tech. InfoTracePro
zur Optik
G303035000
LC, Floating Network Subscription
G303036000
TracePro Bridge For SolidWorks, Node Locked
Subscription
G303037000
TracePro Bridge For SolidWorks, Floating Network
Subscription
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
sales@linos.de
Seite 249
TracePro-Schulungskurse unterstützen aktuelle und potenzielle
Anwender bei ihren Optikkonstruktions- und Analyseaufgaben.
Entdecken Sie die Leistungsfähigkeit und Vielseitigkeit von
TracePro, ziehen Sie maximalen Nutzen aus Ihrer Investition und
nutzen Sie das technische Fachwissen und das Branchen-Knowhow der TracePro-Instruktoren.
-413,282 Dünne Schichten
chten | Dielektrische Spiegelschichten Dünne Schichten | Dielektrische Spiegelschichten
Optiksoftware
TracePro Schulungsprogramme
®
Bestell-Nr.
Bezeichnung
Dauer
TracePro Training, Illumination Design
2 Tage
G303041000
TracePro Training, Stray Light Analysis
1 Tag
G303042000
TracePro Training, Macro Language
2 Tage
G303040000
nstock Foto-Objektive | Qualitätsfilter
k Foto-Objektive | Asphärische Lupen
www.linos.com
Seite 250
Phone
+ 49 (0) 551 69 35 - 0
Free Call (08 00) 6 78 68 35
Fax
E-mail
+ 49 (0) 551 69 35 - 166
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