Methodenvergleich Partikelanalyse
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Methodenvergleich Partikelanalyse
Methodenvergleich Partikelanalyse Bildanalyse – Laserbeugung - Siebung Kai Düffels Retsch Technology GmbH Analytica 2014 Halle A1 – Stand 103 Partikelgrößenmessung von Nano- bis Millimeter © Retsch Technology GmbH 2 Messprinzip Bildanalyse STATISCH DYNAMISCH (ISO 13322-1) (ISO 13322-2) •Bilder werden von ruhenden Partikeln aufgenommen •Partikel werden in Bewegung relativ zu der Kamera aufgenommen •Hohe Auflösung > 0,5 µm •Auflösung > 1 µm •Analyse von einigen 100 Partikel (geringe Statistik) •Analyse von einigen Millionen Partikel (repräsentative Messung) •Begrenzter Messbereich •Großer Messbereich •Zeitaufwändig •Schnell •Partikel werden in stabiler Lage detektiert •Partikel werden in zufälliger Orientierung detektiert (3 Dimensionen) (2 Dimensionen) © Retsch Technology GmbH 3 Zwei Geräte: CAMSIZER – CAMSIZER XT CAMSIZER CAMSIZER XT • 30 µm – 30 mm • 1 µm – 3 mm • Trockenmessung • Nass- und Trockenmessung • nur für frei rieselfähige Schüttgüter • zusätzlich für feine und agglomerierte Produkte 4 CAMSIZER: Zwei-Kamera-System m Zoo Basic Basic-Kamera Zoom-Kamera © Retsch Technology GmbH 5 Messprinzip CAMSIZER XT Neue Optik mit höherer Auflösung für das Zwei-Kamera-Prinzip Probenstrom Basic Kamera Objektiv 2 Lichtquelle 1 Linsen Zoom Kamera Objektiv 1 Lichtquelle 2 © Retsch Technology GmbH 6 Auflösung CCD - Basic CCD - Zoom Partikeldetektion Ein Partikel wird detektiert, wenn mindestens die Hälfte eines Pixels abgedeckt ist. CAMSIZER 75 µm 15 µm CAMSIZER XT: 15 µm 1 µm © Retsch Technology GmbH 7 CAMSIZER XT Highlights Highlights des optischen Systems: • 277 Bilder pro Sekunde • Full-Frame-Kameras mit einer Auflösung > 1.3 Megapixel • Separate Lichtquelle für optimierte Helligkeit, Homogenität und Kontrast • 2 Kameras: hohe Auflösung kombiniert mit exzellenter Statistik für einen großen dynamischen Messbereich • Bildverarbeitung in Echtzeit: Jeder Partikel in jedem Bild wird analysiert • Hunderte Partikel pro Bild: exzellente Statistik in kürzester Zeit Der CAMSIZER XT hat einen größeren dynamischen Messbereich mit besserer Statistik und Reproduzierbarkeit als jedes andere Bildanalysegerät © Retsch Technology GmbH 8 Modulares Konzept der Probenzufuhr: "X-Change" Flexible Konfiguration für einen breiten Anwendungsbereich einfach • sicher • schnell © Retsch Technology GmbH 9 Trockendispergierung X-Dry Trockendispergierung (2 Optionen) X- Fall (Freifall-Dispergierung) X-Jet (Druckluft-Dispergierung) © Retsch Technology GmbH 10 Messmodul – X-Jet Trockendispergierung mit X-Jet Messbereich von 1 µm bis 3 mm Für feine Pulver und Agglomerate Trocken-Dispergierung durch Druckluft: Druck von 0,2 bar bis 4,5 bar für optimale Dispergierung der Agglomerate, ohne die Primärpartikel zu zerstören © Retsch Technology GmbH 11 Messmodul – X-Flow Nassdispergierung mit X-Flow Messbereich: 1 µm bis 600 µm Für Emulsionen und Suspensionen Optimale Dispergierung durch Ultraschallbad Auch für organische Lösungsmittel © Retsch Technology GmbH 12 Direkte Größenmessung am Einzelpartikel Korngrößendefinition Auswertung von Schattenprojektionsflächen Wie groß ist dieses Partikel? © Retsch Technology GmbH 13 Größenmodelle xc min “Breite” xFläche xFe max “Durchmesser über Projektionsfläche” “Länge” A xc min A‘ = A xFläche xFe max © Retsch Technology GmbH 14 Vergleich Größenmodelle xc min Q3 [%] xFläche xFe max Sample A_Basic_0.2%_xc_min_001.rdf Sample A_Basic_0.2%_x_area_001.rdf Sample A_Basic_0.2%_xFemax_001.rdf 80 70 60 50 40 30 20 10 0 0.2 0.4 Unterschiedliche Größenmodelle 0.6 1 2x [mm] x[mm] Unterschiedliche Ergebnisse © Retsch Technology GmbH 15 Kornform • Breiten-/ Längenverhältnis xc x Fe xc min xFe max min max • Rundheit U A 4 πA 2 U . • Symmetrie r 1 1 + min 1 2 r2 • Konvexität A real Akonvex r2 r1 S A konvex A real © Retsch Technology GmbH 16 Beispiel Formauswertung Formanalyse zur Erkennung gebrochener Partikel präzise Detektion der Anzahl gebrochener Partikel durch Formerkennung: Applikationsbeispiel Katalysatoren © Retsch Technology GmbH 17 Anwendungsbereiche Typische Probenmaterialien • pharmazeutische Pulver, Granulate und feine Pellets • Lebensmittelpulver und -Granulate • Waschmittel, Enzyme, Füllstoffe für Waschpulver • Metall- oder Erzpulver • Schleifmittel (mittlere und feine Körnungen) • feine Sande und Zement, Baustoffe, Kalkstein • feine Fasern © Retsch Technology GmbH 18 Partikelgrößenmessung von Nano- bis Millimeter © Retsch Technology GmbH 19 Wechselwirkung von Laserlicht mit Partikeln MIE-Theorie beschreibt alle Phänomene bei der Wechselwirkung Die Beschreibung der Streuung von Licht an kleinsten Partikeln erfordert: Kenntnis des Brechungsindex Kenntnis des Absorptionsindex Messung der Streulichtintensität über einen möglichst großen Winkelbereich Streulichtmuster von Partikeln Theorie d >> λ Fraunhofer d < — λ Mie d << λ Rayleigh λ= Wellenlänge des Laserlichtes d = Partikeldurchmesser Wenn die Partikel kleiner gleich der Lichtwellenlänge sind, müssen optische Eigenschaften der Partikel berücksichtigt werden, da die Streulichtmuster nicht mehr vorwiegend durch das Phänomen der Beugung entstehen. Optisches Design moderner Partikelgrößenanalysatoren HORIBA LA-950 2 LaserlichtquellenDetektoren in rot ( 650 nm ) Vorwärtsrichtung blau ( 405 nm ) Seitwärts- und Rückwärtsrichtung Theorie CAMSIZER XT Laserstreulichtanalyse Bessere Größeninformation: © Retsch Technology GmbH 23 Bildverarbeitung vs. Streulichtanalyse Probe: Fasern für die Papierproduktion © Retsch Technology GmbH 24 CAMSIZER (XT) Laserbeugung Laserbeugung CAMSIZER XT Messbereich ab 10nm > 1µm Formanalyse nein ja Nachweis von Überkorn > 2% wenige große Partikel < 0.1% Vol. gut im Mikrometerbereich sehr gute Auflösung für größere Partikel multimodale Verteilungen begrenzt viel bessere Größenauflösung Vergleichbarkeit mit Siebanalyse schlecht identische Resultate sind möglich Informationsgehalt Black box / viele Modellannahmen echte Partikeldimensionen aus Abbildungen Auflösung © Retsch Technology GmbH 25 Partikelgrößenmessung von Nano- bis Millimeter © Retsch Technology GmbH 26 Siebverfahren zur Korngrößenbestimmung Wurfsiebung Plansiebung Grundlagen Klopfsiebung Luftstrahlsiebung Wurfsiebung Plansiebung Klopfsiebung Luftstrahls. trocken nass © Retsch GmbH 27 Analysensiebe Analysensiebe in normgerechter Ausführung d Wird die Siebanalyse als Qualitätskontrolle im Rahmen der DIN EN ISO 9000:2000 eingesetzt, sind sowohl die Siebmaschine als auch die Analysensiebe der Prüfmittelüberwachung zuzuführen. w Y : Toleranz für den Mittelwert Der Mittelwert der Maschenweiten darf um nicht mehr als die Toleranz ± Y vom nominellen Wert w abweichen. Ø Technische Anforderungen & Prüfung nach ISO 3310 w Ø d w = Maschenweite d = Drahtdurchmesser © Retsch Technology GmbH 28 Toleranz der Maschenweite Q3 [%] Q3 [%] 90 90 80 80 70 70 60 60 50 50 40 40 30 20 30 63 µm Toleranz ± Y = 3,7 µm20 10 10 44% 36% 40 50 60 70 80 90 100 200 300 400 Partikelgröße x[µm] -Y 59,3+Y 66,7 © Retsch Technology GmbH 29 Digitale Bildanalyse Siebung Q3 [%] Sample A_BZ_0.2%_xc_min_001.rdf Sample A_.ref 80 70 60 50 40 30 20 10 0 0.2 0.4 0.6 1 x [mm] © Retsch Technology GmbH 30 Siebanalyse Messbereich Kornformanalyse Nachweis von Überkorn Auflösung Auflösen von Mehrmodalitäten Wiederholbarkeit und Lab-to-Lab Vergleich Vergleichbarkeit der Methoden Durchführung CAMSIZER und XT Analysensiebung CAMSIZER und XT 20 µm - 63 mm 1 µm – 30 mm nein ja jedes Partikel einige wenige große Partikel ab ca. 0.1% Vol. schlecht sehr hoch schlecht möglich sehr gut möglich „begrenzt“ sehr gut identische Resultate erzielbar „einfach“ aber zeitaufwändig einfach, objektiv, schnell © Retsch Technology GmbH 31 Verschieene Analyseverfahren © Retsch Technology GmbH 32 Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit Retsch Technology GmbH Halle A1 – Stand 103